throbber
R. JACOB (JAKE) BAKER, PH.D., P.E.                                              

`Professor of Electrical and Computer Engineering  
`University of Nevada, Las Vegas 
`Department of Electrical and Computer Engineering 
`Box 454026 • 4505 S. Maryland Parkway 
`Las Vegas, Nevada 89154‐4026 

` (702) 895‐4125 (office) 

`Email: rjacobbaker@gmail.com 
`Website: http://CMOSedu.com/jbaker/jbaker.htm 
`

`

`SUMMARY 
` Extensive leadership experience including: 
`o Chair, Electrical and Computer Engineering Department, Boise State University;  
`o Dealing with conflict, problems, and limited resources; 
`o Leading the department through ABET accreditation; 
`o Creation and implementation of both Master and Doctoral programs in ECE. 
` Active scholar (h‐index > 30 and an i10‐index > 80) whose research is focused on:  
`o High‐speed interfaces for electro‐optic, mixed‐signal, and analog integrated circuits; 
`o Design  of  writing  and  sensing  circuitry  for  emerging  nonvolatile  memory  technologies,  focal 
`planes, and displays (arrays) in nascent nanotechnologies (e.g. magnetic, chalcogenide); 
`o Analog and mixed‐signal circuit techniques for nanometer CMOS; 3D packaging techniques 
`o The design of instrumentation for scientific research 
`o Delivery of circuit design education to off‐campus students/engineers via the Internet. 
` Mentor to:  
`o Approximately 75 graduate students (major professor),  
`http://CMOSedu.com/jbaker/students/students.htm 
`o Electrical and Computer Engineering Department faculty; 
`o Engineers locally, nationally, and internationally;  
`o New and established companies. 
`
`Inventor with 137 granted US patents 
` Experienced  integrated  circuit  designer  and  educator  with  significant  industry  experience.  See 
`additional information at http://cmosedu.com/jbaker/projects/fund.htm 
` Textbook authorship and Internet contributions (see http://CMOSedu.com), that have helped tens 
`of thousands of engineers around the world. 
` Recognized  by  the  IEEE  Power  Electronics  Society  with  the  Best  Paper  Award  in  2000  (IEEE 
`Transactions on Power Electronics) from PhD dissertation work. 
`International known in the field of integrated circuit design, recipient of many honors including the 
`Terman Award, the IEEE CAS Education Award, and IEEE Fellow. 
`
`Page 1
`
`
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.001
`
`

`

`EDUCATION 
`Ph.D. in Electrical Engineering; December 1993; University of Nevada, Reno, GPA 4.0/4.0. Dissertation 
`Title: Applying power MOSFETs to the design of electronic and electro‐optic instrumentation. 
`M.S.  and  B.S.  in  Electrical  Engineering:  May  1986  and  1988;  University  of  Nevada,  Las  Vegas.  Thesis 
`Title: Three‐dimensional simulation of a MOSFET including the effects of gate oxide charge. 
`

`ACADEMIC EXPERIENCE 
`January 1991 ‐ Present: Professor of Electrical and Computer Engineering at the University of Nevada, 
`Las Vegas from August 2012 to present. From January 2000 to July 2012 held various positions at 
`Boise  State  University  including:  Professor  (2003  –  2012),  Department  Chair  (2004  ‐ 2007),   and 
`tenured  Associate  Professor  (2000  ‐  2003).  From  August  1993  to  January  2000  was  a 
`tenured/tenure track faculty member at the University of Idaho: Assistant Professor (1993 ‐ 1998) 
`and then tenured Associate Professor (1998). Lastly, from January 1991 to May 1993 held adjunct 
`faculty positions in the departments of Electrical Engineering at the University of Nevada, Las Vegas 
`and Reno. Additional details: 
` Research is focused on analog and mixed‐signal integrated circuit design. Worked with multi‐
`disciplinary teams (civil engineering, biology, materials science, etc.) on projects that have been 
`funded by EPA, DARPA, NASA, and the Air Force Research Lab. 
` Current research interests are: 
`o Design of readout integrated circuits (ROICs) for use with focal plane arrays (FPAs) 
`o Heterogeneous integration of III‐V photonic devices (e.g. FPAs and VCSELs) with CMOS 
`o Methods (e.g., 3D packaging and capacitive interconnects) to reduce power consumption in 
`semiconductor memories  
`o Analog and mixed‐signal circuit design for communication systems, synchronization, energy 
`storage, and data conversion  
`o The design of writing and sensing circuitry for emerging nonvolatile memory technologies, 
`focal  planes,  and  displays 
`(arrays) 
`in  nascent  nanotechnologies 
`(e.g.  magnetic, 
`chalcogenide) 
`o Reconfigurable electronics design using nascent memory technologies 
`o Finding  an  electronic,  that  is,  no  mechanical  component,  replacement  for  the  hard  disk 
`drive using nascent fabrication technologies 
`o Methods  to  deliver  circuit  design  education  to  industry  and  off‐campus  students,  see 
`videos here 
`Led, as chair, the department in graduate curriculum (MS and PhD), program development, and 
`ABET accreditation visits. 
` Worked  with  established  and  start‐up  companies  to  provide  technical  expertise  and  identify 
`employment opportunities for students.  
` Held various leadership and service positions including: ECE chair, graduate coordinator, college 
`curriculum committee (chair), promotion and tenure committee, scholarly activities committee, 
`faculty search committee, university level search committees, etc.  Collaborate with College of 
`Engineering faculty on joint research projects.  
` Taught  courses  in  circuits,  analog  IC  design,  digital  VLSI,  and  mixed‐signal  integrated  circuit 
`design to both on‐ and, via the Internet, off‐campus students. Research emphasis in integrated 
`circuit design using nascent technologies. 

`
`
`
`Page 2
`

`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.002
`
`

`
`INDUSTRIAL EXPERIENCE 
`2013 ‐  present: Working with Freedom Photonics and Attolo Engineering in the Santa Barbara area on 
`the integration of optics with CMOS integrated circuits including Avalanche Photodiodes. Work has 
`resulted, and should continue to result in, support via the SBIR and STTR programs. 
`2013  ‐ present:   Working  with  National  Security  Technologies,  LLC,)  on  the  Design  of  Integrated 
`electrical/photonic application specific integrated circuit (ASIC) design.    
`2013 ‐ 2015: Consultant for OmniVision. Working on integrating CMOS image sensors with memory for 
`very high‐speed consumer imager products. 
`2010 ‐ 2013: Worked with Arete’ Associates on the design of high‐speed compressive transimpedance 
`amplifiers for LADAR projects and the design of ROIC unit cells. Work funded by the U. S. Air Force.  
`2013: Cirque, Inc. Consulting on the design of analog‐to‐digital interfaces for capacitive touch displays 
`and pads. 
`2012:  Consultant  at  Lockheed‐Martin  Santa  Barbara  Focal  Plane  Array.  CMOS  circuit  design  for  the 
`development and manufacture of infrared components and imaging systems with an emphasis on 
`highest sensitivity Indium Antimonide (InSb) focal plane arrays (FPAs) in linear through large staring 
`formats.  Product  groups  include  FPAs,  integrated  dewar  assemblies  (IDCAs),  camera  heads,  and 
`infrared imaging systems. 
`2010 ‐ 2012: Working with Aerius Photonics (and then FLIR Inc. when Aerius was purchase by FLIR) on 
`the design of Focal Plane Arrays funded (SBIRs and STTRs) by the U.S. Air Force, Navy, and Army. 
`Experience  with  readout  integrated  circuits  (ROICs)  and  the  design/layout  of  photodetectors  in 
`standard CMOS. 
`2009 ‐ 2010: Sun Microsystems, Inc. (now Oracle) VLSI research group. Provided consulting on memory 
`circuit design and proximity connection (PxC) interfaces to DRAMs and SRAMs for lower power and 
`3D packaging. 
`2009 ‐ 2010: Contour Semiconductor, Inc. Design of NMOS voltage and current references as well as 
`the design of a charge pump for an NMOS memory chip. 
`1994 ‐ 2008: Affiliate faculty (Senior Designer), Micron Technology. Designed CMOS circuits for DRAMs 
`including  DLLs  (design  is  currently  used  in  Micron’s  DDR  memory),  PLLs  for  embedded  graphics 
`chips, voltage references and regulators, data converters, field‐emitting display drivers, sensing for 
`MRAM  (using  delta‐sigma  data  conversion  topologies),  CMOS  active  pixel  imagers  and  sensors, 
`power supply design (linear and switching), input buffers, etc. Worked on a joint research project 
`between  Micron  and  HP  labs  in  magnetic  memory  using  the  MJT  memory  cell.  Worked  on 
`numerous  projects  (too  many  to  list)  resulting  in  numerous  US  patents  (see  following  list). 
`Considerable  experience  working  with  product  engineering  to  ensure  high‐yield  from  the 
`production line. Co‐authored a book on DRAM circuit design through the support of Micron. Gained 
`knowledge  in  the  entire  memory  design  process  from  fabrication  to  packaging.  Developed, 
`designed, and tested circuit design techniques for multi‐level cell (MLC) Flash memory using signal 
`processing (35 nm technology node).  
`January 2008: Consultant for Nascentric located in Austin, TX. Provide directions on circuit operation 
`(DRAM, memory, and mixed‐signal) for fast SPICE circuit simulations. 
`May 1997 ‐ May 1998: Consultant for Tower Semiconductor, Haifa, Israel. Designed CMOS integrated 
`circuit cells for various modem chips.  
`Summer  1998:  Consultant  for  Amkor  Wafer  Fabrication  Services,  Micron  Technology,  and  Rendition, 
`Inc., Design PLLs and DLLs for custom ASICs and a graphics controller chip. 
`
`Page 3
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.003
`
`

`
`Summers 1994 ‐ 1995: Micron Display Inc. Designing phase locked loop for generating a pixel clock for 
`field emitting  displays and a NTSC to  RGB circuit on chip in NMOS.  These  displays are miniature 
`color displays for camcorder and wrist watch size color television. 
`September  ‐ October   1993:  Lawrence  Berkeley  Laboratory.  Designed  and  constructed  a  40  A,  2  kV 
`power MOSFET pulse generator with a 3 ns risetime and 8 ns falltime for driving Helmholtz coils.  
`Summer 1993: Lawrence Livermore National Laboratory, Nova Laser Program. Researched picosecond 
`instrumentation, including time‐domain design for impulse radar and imaging. 
`December 1985 ‐ June  1993: (from July 1992 to June 1993 employed as a consultant), E.G.&G. Energy 
`Measurements  Inc.,  Nevada,  Senior  Electronics  Design  Engineer.  Responsible  for  the  design  and 
`manufacturing  of  instrumentation  used  in  support  of  Lawrence  Livermore  National  Laboratory's 
`Nuclear Test Program. Responsible for designing over 30 electronic and electro‐optic instruments. 
`This  position  provided  considerable  fundamental  grounding  in  EE  with  a  broad  exposure  to  PC 
`board design to the design of cable equalizers. Also gained experience in circuit design technologies 
`including: bipolar, vacuum tubes (planar triodes for high voltages), hybrid integrated circuits, GaAs 
`(high speed logic and HBTs), microwave techniques, fiber optic transmitters/receivers, etc. 
`Summer  1985:  Reynolds  Electrical  Engineering  Company,  Las  Vegas,  Nevada.  Gained  hands  on 
`experience  in  primary  and  secondary  power  system  design,  installation  and  trouble  shooting 
`electric motors on mining equipment. 
`

`EXPERT WITNESS EXPERIENCE  
`The law firms and clients (underlined) whom I have provided expert witness services are listed below. I 
`have been deposed eight times and given testimony at one trial. 
`Paul Hastings LLP (New York City, NY and Washington, DC) 
`Case – Samsung, Inc. v. Elbrus International Limited   
`Case Numbers ‐ IPR2015‐01523 and IPR2015‐01524. Filed on June 26, 2015.     
`Case Subject Matter – High‐speed, low‐power data transfer.  
`Work Performed – Provided expert consulting services and wrote declarations for inter partes 
`reviews.   
`Kilpatrick Townsend & Stockton LLP (Menlo Park and San Francisco, CA) 
`Case – Consultant for SK hynix, Inc. on matters relating to investigation of certain patents owned by 
`Longitude Licensing Ltd.  
`Case Subject Matter – Semiconductor random access memory and communication interfaces.  
`Work Performed – Provided expert consulting services in 2015. 
`Ropes & Gray LLP (New York City, NY) 
`Case – Samsung, Inc. v. Imperium IP Holdings (Cayman), Ltd.    
`Case Number – IPR2015‐01233. Filed on May 21, 2015.  
`Case Subject Matter – Data interface circuits that can be either a single‐ended interface or a 
`differential interface.  
`Work Performed – Provided expert consulting services and wrote declaration for inter partes 
`review.  
`Morgan, Lewis & Bockius LLP (Palo Alto, CA) 
`Case – Silergy Corporation v. Monolithic Power Systems, Inc.  
`Case Numbers – IPR2015‐00803 and IPR2015‐00804. Filed on February 24, 2015. 
`Case Subject Matter – Microelectronic packaging.  
`
`Page 4
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.004
`
`

`
`Work Performed – Provided expert consulting services and wrote declarations for inter partes 
`reviews. 
`Jones Day LLP (San Diego, CA)  
`Case – Micron Technology, Inc. v. eDigital Corp.  
`Case Number ‐ IPR2015‐00519. Filed on December 31, 2014.    
`Case Subject Matter – Methods for memory management in non‐volatile flash memories.   
`Work Performed – Provided expert consulting services and wrote declaration for inter partes 
`review. 
`Fish & Richardson P.C. (Atlanta, GA and Washington, DC)  
`Case – Micron Technology, Inc. v. MLC Intellectual Properties and BTG USA/International Inc.  
`Case Number ‐ IPR2015‐00504. Filed on December 24, 2014.    
`Case Subject Matter – Multi‐level non‐volatile floating gate memory, e.g. EPROM, EEPROM, and 
`flash technologies.  
`Work Performed – Provided expert consulting services and wrote declaration for inter partes 
`review. 
`Skadden, Arps, Slate, Meagher & Flom LLP & Affiliates (Palo Alto, CA) 
`Case – ALFRED T. GIULIANO, Chapter 7 Trustee of the Ritz Estate; CPM ELECTRONICS INC.; E.S.E. 
`ELECTRONICS, INC. and MFLASH, INC., on Behalf of Themselves and All Others Similarly Situated 
`v. SanDisk Corp. 
`Case Number – California, ND (Oakland) 4:10‐cv‐02787. Fourth amended complaint filed on 
`September 24, 2014.  
`Case Subject Matter – Non‐volatile semiconductor flash memory.   
`Work Performed – Provided expert consulting services. 
`Morgan, Lewis & Bockius LLP (Palo Alto, CA) 
`Case – Monolithic Power Systems v. Inc. Silergy Corporation   
`Case Number ‐ California, ND 3:14‐cv‐01745. First amended complaint filed on July 7, 2014. 
`Case Subject Matter – Microelectronic packaging.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Ropes & Gray LLP (East Palo Alto, CA, New York City, NY, and Washington, DC) 
`Case – Macronix International Co., Ltd. v. Spansion, Inc., Aerohive Networks, Allied Telesis, Ciena, 
`Delphi Automotive, Polycom, Ruckus Wireless, ShoreTel, Tellabs, and TiVo   
`Case Number – ITC Investigation No. 337‐TA‐922. Complaint filed on June 27, 2014.  
`Case Subject Matter – Devices containing non‐volatile memory and products containing the same.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, invalidity analysis, 
`Markman tutorial, and expert report. 
`Ropes & Gray LLP (Boston, MA and New York City, NY)  
`Case – Imperium IP Holdings (Cayman), Ltd. v. Samsung, Inc.  
`Case Number – Texas, ED 4:14‐cv‐00371. Complaint filed on June 9, 2014.  
`Case Subject Matter – Data interface circuits that can be either a single‐ended interface or a 
`differential interface.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Quinn Emanuel Urquhart & Sullivan, LLP (San Francisco, CA and Washington, DC) 
`Case – Freescale Semiconductor, Inc. v. MediaTek, Inc., et. al. 
`Case Number – ITC Investigation No. 337‐TA‐920.  Amended complaint filed on May 27, 2014.  
`Case Subject Matter – Semiconductor integrated circuits and devices containing the same.  
`Work Performed – Provided expert consulting services. 
`
`Page 5
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.005
`
`

`
`DLA Piper (East Palo Alto and San Diego, CA) 
`Case – GSI Technology, Inc. v. Cypress Semiconductor Corporation  
`Case Number – IPR2014‐00419. Filed on February 7, 2014.   
`Case Subject Matter – Semiconductor static random access memory (SRAM) circuit design.  
`Work Performed – Provided expert consulting services and wrote declaration for inter partes 
`review. 
`Ropes & Gray LLP (Washington, DC) 
`Case – Macronix International Co., Ltd. v. Spansion, Inc., et al. 
`Case Number – Virginia, ED 3:13‐cv‐00679. Complaint filed on November 20, 2013.  
`Case Subject Matter – Non‐volatile semiconductor flash memory.   
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Cooley LLP (San Diego, CA) 
`Case – HSM Portfolio LLC and Technology Properties Limited LLC v. Fujitsu, AMD, Qualcomm, Inc., 
`Elpida, SK Hynix, Micron, ProMOS, SanDisk, Sony, ST Micro, Toshiba, ON, and Zoran 
`Case Number – Delaware, 1:11‐cv‐00770. Third amended complaint filed on June 28, 2013.  
`Case Subject Matter – Semiconductor sensing circuits.   
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`DLA Piper (East Palo Alto and San Diego, CA) 
`Case – Cypress Semiconductor Corporation v. GSI Technology, Inc. 
`Case Number – California, ND 3:13‐cv‐02013. Complaint filed on May 1, 2013.  
`Case Subject Matter – Semiconductor static random access memory (SRAM) circuit design.  
`Work Performed – Provided expert consulting, claim construction, non‐infringement analysis, and 
`invalidity analysis. 
`Montgomery McCracken Walker & Rhoads LLP (Philadelphia, PA) 
`Case – Simon Nicholas Richmond v. Winchance Solar Fujian Technology, Target, Creative Industries, 
`et. al. 
`Case Number – New Jersey, 3:13‐cv‐01954. Amended complaint filed on March 27, 2013.  
`Case Subject Matter – Circuitry including solar cells, re‐chargeable batteries, energy conversion for 
`solar lighting.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`DLA Piper (East Palo Alto, CA) 
`Case – Intellectual Ventures I/II LLC v. Toshiba, Inc. 
`Case Number – Delaware, 1:13‐cv‐00453. Complaint filed on March 20, 2013.  
`Case Subject Matter – Semiconductor memory and interface circuits.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Alston & Bird, DLA Piper, Gibson Dunn, Katten, O'Melveny, Orrick, and WilmerHale (various locations 
`in the USA) 
`Case – Freescale v. Funai, CSR, Zoran, MediaTek, Vizio, Sanyo, TPF, Top Victory Electronics, Envision 
`Peripherals, AmTRAN, and Marvell 
`Case Number – Texas, WD 1:12‐cv‐00644. Amended complaint filed on January 14, 2013.  
`Case Subject Matter – Semiconductor circuitry for voltage regulators, bus terminations, packaging, 
`and signal processing. 
`Work Performed – Provided expert consulting, claim construction, non‐infringement analysis, 
`invalidity analysis, and Markman tutorial. 
`Amin, Turocy & Watson LLP (San Jose and San Francisco, CA) 
`Case – InvenSense, Inc. v. Robert Bosch GmbH 
`
`Page 6
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.006
`
`

`
`Case Subject Matter – Microelectromechanical systems (MEMS) sensor design and manufacture.  
`Work Performed – Provided expert consulting services in 2013. 
`Morrison & Foerster LLP (Los Angeles, Palo Alto, and San Francisco, CA) 
`Case – STMicroelectronics, Inc. v. InvenSense, Inc. 
`Case Number – California, ND 3:12‐cv‐02475. Complaint filed on May 16, 2012.  
`Case Subject Matter – Microelectromechanical systems (MEMS) sensors including Gyroscopes and 
`accelerometers.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, invalidity analysis, and 
`wrote declaration. 
`Kilpatrick Townsend & Stockton LLP (Menlo Park and San Francisco, CA) 
`Case – Consultant for SK hynix, Inc. on matters relating to investigation of certain patents owned by 
`Round Rock Research LLC  
`Case Subject Matter – Semiconductor random access memory.  
`Work Performed – Provided expert consulting services in 2012. 
`Keker & Van Nest LLP (San Francisco, CA) 
`Case – Round Rock Research LLC v. SanDisk Corp. 
`Case Number – Delaware, 1:12‐cv‐00569. Complaint filed on May 3, 2012.  
`Case Subject Matter – Semiconductor non‐volatile flash memory.  
`Work Performed – Provided expert consulting including: invalidity analysis, non‐infringement 
`analysis, expert reports, and was deposed. 
`Perkins Coie LLP (San Diego, CA) 
`Case – ASUS Computer International v. Round Rock Research LLC 
`Case Number – California, ND 3:12‐cv‐02099. Complaint filed on April 26, 2012. 
`Case Subject Matter – Semiconductor memory and image sensors.  
`Work Performed – Provided expert consulting, claim construction, non‐infringement analysis, 
`invalidity analysis, expert reports, and was deposed. 
`Morgan, Lewis & Bockius LLP (Palo Alto, CA) 
`Case – Dr. Michael Jaffe’ as insolvency administrator for Qimonda AG v. LSI, Atmel Corp, Cypress, 
`MagnaChip, and ON Semiconductor 
`Case Number – California, ND 3:12‐cv‐03166. Complaint filed on January 10, 2012.  
`Case Subject Matter – Semiconductor processing and manufacturing.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Useful Arts IP (Cupertino, CA) 
`Case – Tezzaron (formerly Tachyon Semiconductor) v. Elm Technology Corporation 
`Case Number – Patent Interference No. 105,859. Declared on December 1, 2011. 
`Case Subject Matter – Packaging of semiconductors and through semiconductor vias. 
`Work Performed – Patent interference, wrote declaration, and was deposed. 
`Morgan, Lewis & Bockius LLP (Palo Alto, CA) 
`Case – Nanya Technology Corporation v. Elpida Memory, Inc. and Kingston Technology Company, 
`Inc. 
`Case Number – ITC Investigation No. 337‐TA‐821. Complaint filed on November 21, 2011.  
`Case Subject Matter – Semiconductor DRAM design and manufacture.  
`Work Performed – Provided expert consulting and reports on validity, infringement, and domestic 
`industry. Also provided declarations and was deposed. 
`Morgan, Lewis & Bockius LLP (Washington, DC) 
`
`Page 7
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.007
`
`

`
`Case – Elpida Memory, Inc. v. Nanya Technology Corporation 
`Case Number – ITC Investigation No. 337‐TA‐819. Complaint filed on November 15, 2011.  
`Case Subject Matter – Semiconductor DRAM design and manufacture.  
`Work Performed – Provided expert consulting and reports on infringement, domestic industry, and 
`validity. Also provided Markman tutorial, declarations, deposition, and testimony at the trial. 
`Ropes & Gray LLP (New York City, NY) 
`Case – Intellectual Ventures v. Sendai Nikon Corporation 
`Case Number – Delaware, 1:11‐cv‐01025. Complaint filed on October 26. 2011. 
`Case Subject Matter – Image sensor design and manufacture.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Farella Braun + Martel LLP (San Francisco, CA) 
`Case – Round Rock Research LLC v. Dell, Inc. 
`Case Number – Delaware, 1:11‐cv‐00976. Complaint filed on October 14, 2011.  
`Case Subject Matter – Semiconductor DRAM design and manufacture.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, invalidity analysis, and 
`wrote declaration. 
`Latham & Watkins LLP (San Francisco, CA) 
`Case – Altera Corp. v. LSI Corp. and Agere Systems, Inc. 
`Case Number – California, ND 4:11‐cv‐03139. Complaint filed on June 24, 2011.  
`Case Subject Matter – Semiconductor devices including phase‐locked loops and clock recovery 
`circuits.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Fish & Richardson P.C. (Washington, DC) 
`Case – Spansion LLC v. Samsung Electronics Co., Ltd., Apple, Inc., Nokia Corp., PNY Technologies, 
`Inc. Research In Motion Corporation, Transcend Information Inc. 
`Case Number – ITC Investigation No. 337‐TA‐735. Complaint filed on August 6, 2010. 
`Case Subject Matter – Semiconductor flash memory manufacture and design.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Jones Day LLP (Palo Alto, CA) 
`Case – LSI and Agere, Inc. v. Xilinx, Inc. 
`Case Number – New York, SD 1:09‐cv‐09719. Complaint filed on November 23, 2009.   
`Case Subject Matter – Semiconductor digital design and clocking.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Morrison & Foerster LLP (New York City, NY) 
`Case – Innurvation, Inc. et al v. Fujitsu Microelectronics America, Inc., Sony Corporation of America, 
`Toshiba America Electronics Components, Inc., and Freescale Semiconductor, Inc. 
`Case Number – Maryland, 1:09‐cv‐01416. Complaint filed on May 29, 2009.   
`Case Subject Matter – Semiconductor circuit layout.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, and invalidity analysis. 
`Wilson Sonsini Goodrich & Rosati P.C. (Palo Alto, CA) 
`Case – Panavision Imaging, LLC, v. OmniVision Technologies, Inc., Canon U.S.A., Inc., Micron 
`Technology, Inc., Aptina Imaging Corporation, and Aptina, LLC. 
`Case Number – California, CD 2:09‐cv‐01577. Complaint filed on March 6, 2009. 
`Case Subject Matter – CMOS image sensor design and manufacture.  
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, invalidity analysis, two 
`expert reports, and wrote declaration. 
`
`Page 8
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.008
`
`

`
`McDermott Will & Emery (Menlo Park, CA) 
`Case – Volterra Semiconductor Corp. v. Primarion & Infineon Technologies North America & 
`Infineon Technologies, A.G. 
`Case Number – California, ND 3:08‐cv‐05129. Complaint filed on November 12, 2008.  
`Case Subject Matter – High‐performance analog and mixed‐signal power management 
`semiconductors. 
`Work Performed – Provided expert consulting, non‐infringement analysis, invalidity analysis, two 
`expert reports, and was deposed. 
`pre‐2008   Miscellaneous minor expert witness work, was deposed twice. 

`MEMBERSHIPS IN PROFESSIONAL AND SCHOLARLY ORGANIZATIONS 
`IEEE (student, 1983; member, 1988; senior member, 1997; Fellow, 2013)  
`Member of the honor societies Eta Kappa Nu and Tau Beta Pi 
`Licensed Professional Engineer  

`HONORS AND AWARDS  
`Tau Beta Pi UNLV Outstanding Professor of the Year in 2013 ‐ 2015 
`
` UNLV ECE Department Distinguished Professor of the Year in 2015 
`IEEE Fellow for contributions to the design of memory circuits ‐ 2013 
`
` Distinguished Lecturer for the IEEE Solid‐State Circuits Society, 2013 ‐ 2014 
`IEEE Circuits and Systems (CAS) Education Award ‐ 2011 
`
`Twice elected to the Administrative Committee of the Solid‐State Circuits Society, 2011 ‐ 2016 
`
`Frederick Emmons Terman Award from the American Society of Engineering Education ‐ 2007  
`
`President’s Research and Scholarship Award, Boise State University ‐ 2005 
`
` Honored Faculty Member ‐ Boise State University Top Ten Scholar/Alumni Association 2003 
` Outstanding Department of Electrical Engineering faculty, Boise State 2001 
`Recipient of the IEEE Power Electronics Society’s Best Paper Award in 2000 
`
` University of Idaho, Department of Electrical Engineering outstanding researcher award, 1998‐99 
` University of Idaho, College of Engineering Outstanding Young Faculty award, 1996‐97 


`SERVICE 
`Reviewer  for  IEEE  transactions  on  solid‐state  circuits,  circuits  and  devices  magazine,  education, 
`instrumentation,  nanotechnology,  VLSI,  etc.  Reviewer  for  several  American  Institute  of  Physics 
`journals as well (Review of Scientific Instruments, Applied Physics letters, etc.) Board member of 
`the IEEE press (reviewed dozens of books and book proposals). Reviewer for the National Institutes 
`of Health. Technology editor and then Editor‐in‐Chief for the Solid‐State Circuits Magazine. 
`Led  the  Department  on  ABET  visits,  curriculum  and  policy  development,  and  new  program 
`development  including  the  PhD  in  electrical  and  computer  engineering.  Provided  significant 
`University  and  College  service  in  infrastructure  development,  Dean  searches,  VP  searches,  and 
`growth of academic programs. Provided university/industry interactions including starting the ECE 
`department’s advisory board. Held positions as the ECE department Masters graduate coordinator 
`and coordinator for the Sophomore Outcomes Assessment Test (SOAT). 
`Also currently serves, or has served, on the IEEE Press Editorial Board (1999‐2004), as a member of the 
`first  Academic  Committee  of  the  State  Key  Laboratory  of  Analog  and  Mixed‐Signal  VLSI  at  the 
`University  of  Macau,  as  editor  for  the Wiley‐IEEE  Press  Book  Series  on  Microelectronic 
`Systems (2010‐present),  on  the  IEEE  Solid‐State  Circuits  Society  (SSCS)  Administrative  Committee 
`
`Page 9
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.009
`
`

`
`(2011‐present), as an Advisory Professor to the School of Electronic and Information Engineering at 
`Beijing Jiaotong University,  as  the  Technology  Editor  (2012‐2014)  and  Editor‐in‐Chief  (2015  ‐ 
`present) for the IEEE Solid‐State Circuits Magazine, as a Distinguished Lecturer for the SSCS (2013‐
`2014), and as the Technical Program Chair for the IEEE 58th 2015 International Midwest Symposium 
`on Circuits and Systems, MWSCAS 2015. 
`

`ARMED FORCES 
`6 years United States Marine Corps reserves (Fox Company, 2nd Battalion, 23rd Marines, 4th Marine 
`Division), Honorable Discharge, October 23, 1987 
`

`TEXTBOOKS AUTHORED 
`Baker, R. J., "CMOS Circuit Design, Layout and Simulation, Third Edition" Wiley‐IEEE, 1174 pages. ISBN 
`978‐0470881323 (2010) Over 50,000 copies of this book’s three editions in print. 
`Baker, R. J., “CMOS Mixed‐Signal Circuit Design,” Wiley‐IEEE, 329 pages. ISBN 978‐0470290262 (second 
`edition, 2009) and ISBN 978‐0471227540 (first edition, 2002) 
`Keeth,  B.,  Baker,  R.  J.,  Johnson,  B.,  and  Lin,  F.,  “DRAM  Circuit  Design:  Fundamental  and  High‐Speed 
`Topics”, Wiley‐IEEE, 2008, 201 pages. ISBN: 978‐0‐470‐18475‐2 
`Keeth, B. and Baker, R. J., “DRAM Circuit Design: A Tutorial”, Wiley‐IEEE, 2001, 201 pages. ISBN 0‐7803‐
`6014‐1  
`Baker, R. J., Li, H.W., and Boyce, D.E. "CMOS Circuit Design, Layout and Simulation," Wiley‐IEEE, 1998, 
`904 pages. ISBN 978‐0780334168 
`

`BOOKS, OTHER (edited, chapters, etc.) 
`Saxena,  V.  and  Baker,  R.  J.,  “Analog  and  Digital  VLSI,”  chapter  in  the  CRC  Handbook  on  Industrial 
`Electronics, edited by J. D. Irwin and B. D. Wilamowski, CRC Press, 2009 second edition. 
`Li, H.W., Baker, R. J., and Thelen, D., “CMOS Amplifier Design,” chapter 19 in the CRC VLSI Handbook, 
`edited by Wai‐kai Chen, CRC Press, 1999 (ISBN 0‐8493‐8593‐8) and the second edition in 2007 (ISBN 
`978‐0‐8493‐4199‐1) 
`Baker, R. J.,  “CMOS Analog Circuit Design,” (A self‐study  course with study guide, videos, and tests.) 
`IEEE Education Activity Department, 1999. ISBN 0‐7803‐4822‐2 (with textbook) and ISBN 0‐7803‐
`4823‐0 (without textbook) 
`Baker, R. J., “CMOS Digital Circuit Design,” (A self‐study course with study guide, videos, and tests.) IEEE 
`Education Activity Department, 1999. ISBN 0‐7803‐4812‐5 (with textbook) and ISBN 0‐7803‐4813‐3 
`(without textbook) 
`

`INVITED TALKS AND SEMINARS 
`locations:  AMD  (Fort  Collins),  AMI 
`Have  given 
`invited  talks  and  seminars  at  the  following 
`semiconductor,  Arizona  State  University,  Beijing  Jiaotong  University,  Boise  State  University, 
`Carleton University, Carnegie Mellon, Columbia University, Dublin City University (Ireland), E.G.&G. 
`Energy  Measurements,  Foveon,  the  Franklin  Institute,  Georgia  Tech,  Gonzaga  University,  Hong 
`Kong  University  of  Science  and  Technology,  ICySSS  keynote,  IEEE  Electron  Devices  Conference 
`(NVMTS),  IEEE  Workshop  on  Microelectronics  and  Electron  Devices  (WMED),  Indian  Institute  of 
`Science  (Bangalore,  India),  Instituto  de  Informatica  (Brazil),  Instituto  Tecnológico  y  de  Estudios 
`Superiores  de  Monterrey  (ITESM,  Mexico),  Iowa  State  University,  Lawrence  Livermore  National 
`
`Page 10
`
`R. JACOB BAKER
`
`
`
`MICRON-1004.010
`
`

`
`Laboratory, Lehigh University, Micron Technology, Nascentric, National Semiconductor, Princeton 
`University,  Rendition,  Saintgits  College  (Kerala,  India),  Southern  Methodist  University,  Sun 
`Microsystems,  Stanford  University,  ST  Microelectronics  (Delhi,  India),  Temple  University,  Texas 
`A&M  University,  Tower  Semiconductor  (Israel),  University  of  Alabama  (Tuscaloosa),  University  of 
`Arkansas,  University  of  Buenos  Aires  (Argentina),  University  of  Houston,  University  of  Idaho, 
`University  of  Illinois  (Urbana‐Champaign), Université  Laval  (Québec  City,  Québec),  University  of 
`Macau, University of Maryland, Université de Montréal (École Polytechnique de Montréal), Xilinx 
`(Ireland),  University  of  Nevada  (Las  Vegas),  University  of  Nevada  (Reno),  Unive

This document is available on Docket Alarm but you must sign up to view it.


Or .

Accessing this document will incur an additional charge of $.

After purchase, you can access this document again without charge.

Accept $ Charge
throbber

Still Working On It

This document is taking longer than usual to download. This can happen if we need to contact the court directly to obtain the document and their servers are running slowly.

Give it another minute or two to complete, and then try the refresh button.

throbber

A few More Minutes ... Still Working

It can take up to 5 minutes for us to download a document if the court servers are running slowly.

Thank you for your continued patience.

This document could not be displayed.

We could not find this document within its docket. Please go back to the docket page and check the link. If that does not work, go back to the docket and refresh it to pull the newest information.

Your account does not support viewing this document.

You need a Paid Account to view this document. Click here to change your account type.

Your account does not support viewing this document.

Set your membership status to view this document.

With a Docket Alarm membership, you'll get a whole lot more, including:

  • Up-to-date information for this case.
  • Email alerts whenever there is an update.
  • Full text search for other cases.
  • Get email alerts whenever a new case matches your search.

Become a Member

One Moment Please

The filing “” is large (MB) and is being downloaded.

Please refresh this page in a few minutes to see if the filing has been downloaded. The filing will also be emailed to you when the download completes.

Your document is on its way!

If you do not receive the document in five minutes, contact support at support@docketalarm.com.

Sealed Document

We are unable to display this document, it may be under a court ordered seal.

If you have proper credentials to access the file, you may proceed directly to the court's system using your government issued username and password.


Access Government Site

We are redirecting you
to a mobile optimized page.





Document Unreadable or Corrupt

Refresh this Document
Go to the Docket

We are unable to display this document.

Refresh this Document
Go to the Docket